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用于可靠性試驗的技術標準

日期:2022-01-13 00:36
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摘要:

用于可靠性試驗的技術標準
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對產品進行可靠性試驗,根據試驗的目的選用什么試驗方法,選用什么試驗條件,如何確定失效判據,如何選擇抽樣方式,*后對產品進行可靠性評價的結果符合什么可靠性等級,這在現有國內、國際上制定的各種可靠性技術標準上幾乎都有明確規定。這說明對于電子元器件質量和可靠性水平,在國際上已有統一的標準。對于電子元器件產品適用于民用、工業用、軍用和宇航用都有相應的標準或相應的等級要求。這為我們開展可靠性試驗提供了方便條件。

 用于電子元器件可靠性試驗的主要技術標準如表8.5所列。在表8.5所列的各種標準中,過去美軍MIL標準一直在世界上占主要地位。由于現在在國際上存在著電子元器件可靠性國際認證問題,所以IEC標準正逐漸成為主流。我國這方面的標準大多數是參考MIL標準和IEC標準制定的。世界各國的電子元器件生產廠也都按照這些標準規定的方法進行。

 表8.5 主要的可靠性試驗方法標準

 IEC標準[International Electrotechnical Commission(國際電工委員會)]

 68號出版物:基本環境試驗法

 147-5號出版物:半導體器件的機械及耐氣候性試驗方法

 MIL標準[Military Standard(美國軍用標準)]

http://可靠性.com


MIL-STD-202:電子、電器元器件試驗方法
 MIL-STD-750:分立半導體器件試驗方法

 MIL-STD-833:微電子器件試驗方法

 BS標準[British Standard(英國標準)]

 BS-9300:半導體器件的試驗方法

 BS-9400IC的試驗方法

 JIS標準[Japanese Industral Sandard(日本工業標準)]

 JIS C 7021:分立半導體器件的環境試驗方法和疲勞試驗方法

 JIS C 7022:半導體集成電路的環境試驗方法和疲勞試驗方法

 EIAJ標準[Standard Elcctronic Industries Association of Japan(日本電子機械工業協會標準)]

 SD-121:分立半導體器件的環境和疲勞性試驗方法

 IC-121:集成電路的環境及疲勞性試驗方法

 其它:NASA標準,CECC標準,防衛廳標準,汽車工業標準等

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